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二次離子/濺射中性粒子質譜儀
The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應用于SIMSSNMS的光學采樣。

 

·光柵控制,增強深度分析能力
·所有能量范圍內,離子行程的最小擾動,及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器

 

·質量數范圍:   300amu500amu1000amu

·檢測器:         離子計數探測器、正負離子探測器、10cps

·質量過濾器:   3F四級桿

·桿直徑:         9mm

·最高加熱:      250

·離子源:         電子轟擊,可用于SNMSRGA的單根燈絲

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